Разработан экспериментальный образец оборудования и технология диагностических и квалификационных испытаний бортовой радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов с длительным сроком активного существования на устойчивость к дугообразованию при наземных испытаниях и эксплуатации в космосе. Комплексный подход позволяет производить как поиск критических дефектов, так и их in situ устранение плазмохимическим осаждением полимера на область дефекта.
Процесс сканирования электронной платы плазменной струёй (1) Плата экспериментального модуля (2) и результат её сканирования плазменной струёй (3). Дефекты сканирования и их локализация на плате показаны пунктирными окружностями.
Контактная информация
Институт сильноточной электроники СО РАН, (ИСЭ СО РАН)
634055, г. Томск, пр. Академический 2/3
Заведующий лабораторией вакуумной электроники
ШНАЙДЕР Антон Витальевич
кандидат технических наук
schneider@lve.hcei.tsc.ru
